GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
标准名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准编号：GB/T 35007-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
标准编号：GB/T 35007-2018
规范名称：半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
本标准规定了半导体集成电路低电压差分信号（LVDS,low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市众志联合电子有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法(图)
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