GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
标准名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准编号：GB/T 14028-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法
标准编号：GB/T 14028-2018
规范名称：半导体集成电路 模拟开关测试方法
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、西北工业大学、圣邦微电子股份有限公司
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法(图)
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