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GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

简介

GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

标准编号:GB/T 4937.23-2023

规范名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命

该国家标准描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。该国家标准未规定老炼的详细要求和应用。

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所、池州信安电子科技有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东科信电子有限公司

起草人:冉红雷、张魁、彭浩、魏兵、柯汉忠、颜天宝、张忠祥、黄杰、尹丽晶、徐昕、刘银燕

GB/T 4937.23-2023

GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命(图)

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