GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）

GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）

标准编号：GB/T 4937.27-2023

规范名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）

该国家标准依据半导体器件对规定的机器模型（MM）静电放电（ESD）所造成损伤或退化的敏感度，建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。该国家标准相对于人体模型ESD，用作一种可选的测试方法，目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以此进行准确分级。

该国家标准适用于半导体器件，属于破坏性试验。

半导体器件的ESD测试从该国家标准、人体模型（HBM-见GB/T 4937.26）或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外，HBM测试方法为所选方法。

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、安徽高芯众科半导体有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、河北北芯半导体科技有限公司、武汉格物芯科技有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司

起草人：迟雷、高金环、彭浩、张瑞霞、赵鹏、魏兵、王介、高蕾、辛长林、黄杰、何黎、刘洪刚、颜天宝

GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电（ESD）敏感度测试 机器模型（MM）(图)