SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
标准名称：微电子封装的数字信号传输特性测试方法
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准编号：SJ/T 11704-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
标准编号：SJ/T 11704-2018
规范名称：微电子封装的数字信号传输特性测试方法
适用范围：
本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。
本标准适用于高频数字微电子封装。
全国集成电路标准化分技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类信息传输、软件和信息技术服务业
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