GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
标准名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
标准编号：GB/T 4377-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
标准编号：GB/T 4377-2018
规范名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法
本标准规定了电压调整器（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：圣邦微电子（北京）股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、北京宇翔电子有限公司
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法(图)
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。