GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
标准名称:半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
发布日期:2018-03-15
实施日期:2018-08-01
标准编号:GB/T 35010.6-2018
标准状态:现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式:PDF电子版
标准编号:GB/T 35010.6-2018
规范名称:半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求
GB/T 35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用,半导体芯片产品包括:
晶圆;
单个裸芯片;
带有互连结构的芯片和晶圆;
最小或部分封装的芯片和晶圆。
本部分规定了所需的热仿真信息,在于促进电子系统热学行为和功能验证仿真模型的使用。电子系统包括带或不带互连结构的半导体裸芯片,和(或)最小封装的半导体芯片。本部分是为了使芯片产品供应链所有的环节都满足IEC 62258-1和IEC 62258-2的要求。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:哈尔滨工业大学、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七二所、北京大学
批准发布部门:工业和信息化部(电子)
GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分:热仿真要求(图)