T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准名称：人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
发布日期：2020-10-30
实施日期：2020-11-10
标准编号：T/CESA 1121-2020
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准编号：T/CESA 1121-2020
规范名称：人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、 清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、 上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。