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T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

简介

T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

标准编号:T/CESA 1119-2020

规范名称:人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

起草单位:中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、上海依图网络科技有限公司、 中国科学院计算技术研究所、清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、上海熠知电子科技有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百度网讯科技有限公司、上海阵量智能科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、第四范式(北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司。

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