T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准名称：人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
发布日期：2020-10-30
实施日期：2020-11-10
标准编号：T/CESA 1120-2020
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
T/CESA 1120-2020 人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准编号：T/CESA 1120-2020
规范名称：人工智能芯片 面向边缘侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
起草单位：中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、清华大学、中国科学院计算技 术研究所、上海依图网络科技有限公司、上海熠知电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、北 京智芯微电子科技有限公司、中科寒武纪科技股份有限公司、阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百 度网讯科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳云天励飞技术有限公司、第四范式 (北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
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