SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准编号：SJ/T 2658.1-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
标准编号：SJ/T 2658.1-2015
规范名称：半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
适用范围：
本标准规规定了对半导体红外发射二极管进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。
工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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