SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
标准名称：半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
标准编号：SJ/T 2658.4-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
标准编号：SJ/T 2658.4-2015
规范名称：半导体红外发射二极管测量方法 第4部分：总电容
适用范围：
本标准规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。
工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。