SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
标准名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
标准编号：SJ/T 10804-2000
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
标准编号：SJ/T 10804-2000
规范名称：半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
适用范围：
本规范规定了半导体集成电路电子转换器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路双极型电子转换器电特性的测试。
批准发布部门：信息产业部行业分类无
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。