SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
标准名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
标准编号：SJ/T 10741-2000
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
标准编号：SJ/T 10741-2000
规范名称：半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
适用范围：
本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。
批准发布部门：信息产业部行业分类无
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