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GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

简介

GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

标准编号:GB/T 38446-2020

规范名称:微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法

本标准规定了带状薄膜抗拉性能的试验方法及数据处理。

本标准适用于厚度在50nm到数微米之间且长度和厚度的比值大于300的样品,也可用于MEMS产品带状薄膜结构的质量监控。

全国微机电技术标准化技术委员会

起草单位:北京大学、北京智芯传感科技有限公司、中北大学、中机生产力促进中心、无锡华润上华科技有限公司、北京必创科技股份有限公司

批准发布部门:国家标准化管理委员会

GB/T 38446-2020

GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法(图)

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