GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
标准编号：GB/T 4937.17-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
标准编号：GB/T 4937.17-2018
规范名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
GB/T 4937的本部分是为了测定半导体器件在中子环境中性能退化的敏感性。本部分适用于集成电路和半导体分立器件。中子辐照主要针对军事或空间相关的应用，是一种破坏性试验。
试验目的如下：
a）检测和测量半导体器件关键参数的退化与中子注量的关系；
b）确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内 （见第4章）。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、西北核技术研究所
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照(图)
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