GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求
标准名称：半导体生产设施电磁兼容性要求
发布日期：2013-12-17
实施日期：2014-04-15
标准编号：GB/T 30116-2013
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求
标准编号：GB/T 30116-2013
规范名称：半导体生产设施电磁兼容性要求
本标准规定了为保证半导体生产设施与用于生产半导体器件的设备能一起可靠运行的电磁兼容性（EMC）要求。 u3000u3000 u3000u3000本标准适用于生产半导体器件的设施和设备，这些设施和设备涵盖所有的设施警报、安全、通信与控制系统、工艺设备、测量设备、自动化设备以及信息技术设备。 u3000u3000 u3000u3000本标准不适用于集成电路的封装与功能测试所采用的设备和设施，也不适用于可能在半导体生产过程中产生的静电。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院、安徽鑫阳电子有限公司
批准发布部门：国家标准化管理委员会
GB/T 30116-2013 半导体生产设施电磁兼容性要求(图)
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