GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
标准编号：GB/T 4326-2006
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准编号：GB/T 4326-2006
规范名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。本标准规定测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法业可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达10的4次方Ω?cm 半导体单晶材料的测试。
中国有色金属工业协会
起草单位：北京有色金属研究总院
批准发布部门：中国有色金属工业协会
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法(图)
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