GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法
发布日期：1997-06-03
实施日期：1997-12-01
标准编号：GB/T 1550-1997
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
标准编号：GB/T 1550-1997
规范名称：非本征半导体材料导电类型测试方法
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：峨嵋半导体材料厂
批准发布部门：国家标准化管理委员会
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法(图)
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。