GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
标准名称：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
标准编号：GB/T 43227-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
标准编号：GB/T 43227-2023
规范名称：宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
该国家标准规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
该国家标准适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人：赵元富、姚全斌、荆林晓、李洪剑、曹燕红、刘思嘉、林鹏荣、冯小成、付明洋、林建京、刘征宇
GB/T 43227-2023 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法(图)
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