GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
标准编号：GB/T 43226-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准编号：GB/T 43226-2023
规范名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
该国家标准规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。
该国家标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
起草单位：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人：赵元富、陈雷、郑宏超、李哲、陈淼、王汉宁、王亮、岳素格、林建京、李永峰
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法(图)
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