GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
标准名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
标准编号：GB/T 42838-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
标准编号：GB/T 42838-2023
规范名称：半导体集成电路 霍尔电路测试方法
该国家标准规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。
该国家标准适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院、合肥美菱物联科技有限公司、东莞市国梦电机有限公司、南京中旭电子科技有限公司、北京微电子技术研究所
起草人：尹航、刘芳、张帆、刘德广、何万海、唐食明
GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法(图)
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