GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
标准名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
标准编号：GB/T 42848-2023
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
标准编号：GB/T 42848-2023
规范名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
该国家标准规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。
该国家标准适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
起草人：何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟
GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法(图)
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