GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
标准名称：碳化硅单晶位错密度的测试方法
发布日期：2022-10-14
实施日期：2023-05-01
标准编号：GB/T 41765-2022
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
标准编号：GB/T 41765-2022
规范名称：碳化硅单晶位错密度的测试方法
该国家标准规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。
该国家标准适用于晶面偏离{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：北京天科合达半导体股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司
起草人：彭同华、佘宗静、赵宁、王波、李素青、娄艳芳、王大军、郭钰、杨建
GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法(图)
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