GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
标准名称:半导体单晶晶向测定方法
发布日期:1997-12-22
实施日期:1998-08-01
标准编号:GB/T 1555-1997
标准状态:现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式:PDF电子版
标准编号:GB/T 1555-1997
规范名称:半导体单晶晶向测定方法
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位:峨嵋半导体材料厂
批准发布部门:国家标准化管理委员会
GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法(图)