GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
标准名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
发布日期：1996-07-09
实施日期：1997-01-01
标准编号：GB/T 4377-1996
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
标准编号：GB/T 4377-1996
规范名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
本标准规定了半导体集成电路电压调整器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：北京半导体器件五厂
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理(图)
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