GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
发布日期：1995-07-24
实施日期：1996-04-01
标准编号：GB/T 15653-1995
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
标准编号：GB/T 15653-1995
规范名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。
工业和信息化部（电子）
起草单位：电子工业部标准化研究所
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法(图)
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