GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
标准编号：GB/T 14031-1992
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准编号：GB/T 14031-1992
规范名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。
全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：上海元件五厂
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理(图)
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