SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
标准名称：碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准编号：SJ/T 11504-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11504-2015 碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
标准编号：SJ/T 11504-2015
规范名称：碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
适用范围：
本标准规定了碳化硅单晶抛光片（以下简称“抛光片”）表面质量的目视检验方法。本标准适用于单面或者双面抛光的碳化硅单晶抛光片表面质量的检测。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第四十六研究所、工业和信息化部电子工业标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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