SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
标准名称：岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
发布日期：
实施日期：2021-2-1
标准编号：SY/T 7410.2-2020
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SY/T 7410.2-2020 岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法
标准编号：SY/T 7410.2-2020
资源类别：行业标准
实施日期：2021 年 2 月 1 日
标准大小：1.78 MB
SY/T 7410.2-2020岩石三维孔隙结构测定方法第2部分简介：
SY/T 7410.2-2020《岩石三维孔隙结构测定方法 第2部分：聚焦离子束切片法》本部分规定了聚焦离子束切片技术测定岩石三维孔隙结构的方法及质量要求。
SY/T 7410 的本部分适用于岩石样品的微一纳米级孔隙结构分析。
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