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SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

简介

SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

标准编号:SJ/T 11210-1999

规范名称:石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

适用范围:

本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f|(L)和负载谐振电阻R|(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△F|(L),频率牵引范围△f|(L|(1)L|(2))和牵引灵敏度S。

批准发布部门:信息产业部行业分类无

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