SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
标准名称:石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
发布日期:1999-08-26
实施日期:1999-12-01
标准编号:SJ/T 11210-1999
标准状态:现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式:PDF电子版
简介
SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
标准编号:SJ/T 11210-1999
规范名称:石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
适用范围:
本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f|(L)和负载谐振电阻R|(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△F|(L),频率牵引范围△f|(L|(1)L|(2))和牵引灵敏度S。
批准发布部门:信息产业部行业分类无
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