GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
标准名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
标准编号：GB/T 41033-2021
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
标准编号：GB/T 41033-2021
规范名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
该国家标准规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。
该国家标准适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
起草单位：中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所
批准发布部门：国家标准化管理委员会
GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求(图)
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