GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
标准名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
发布日期：2021-03-09
实施日期：2021-10-01
标准编号：GB/T 5095.2502-2021
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
标准编号：GB/T 5095.2502-2021
规范名称：电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）
GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减／插入损耗的频域法和时域法。
注：该国家标准从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结 果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）(图)
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