当前位置:图集之家标准国标

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

简介

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

标准编号:GB/T 37051-2018

规范名称:太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法

本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法,包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。

本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:英利集团有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、晋能清洁能源科技有限公司、天津英利新能源有限公司、中国电子技术标准化研究院、泰州中来光电科技有限公司、镇江仁德新能源科技有限公司

批准发布部门:国家标准化管理委员会

GB/T 37051-2018

GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法(图)

*特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用,不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权,请联系我们处理。

相关