GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
标准名称：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-10-01
标准编号：GB/T 22586-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
标准编号：GB/T 22586-2018
规范名称：电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。
本标准适用于表面电阻的测试范围如下：
——频率：8GHz＜f＜30GHz
——测试分辨率：0.01m(f=10GHz)。
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rsf2的关系折合到10GHz的值。
全国超导标准化技术委员会
起草单位：电子科技大学、南京大学、清华大学、中国科学院物理研究所
批准发布部门：中国科学院
GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻(图)
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。