GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
标准名称：工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
发布日期：2016-08-29
实施日期：2017-07-01
标准编号：GB/T 14849.10-2016
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
标准编号：GB/T 14849.10-2016
规范名称：工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中汞含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中汞含量的测定，测定范围：0.000 010 %-0.001 0 %。 u3000u3000
全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：昆明冶金研究院、北京矿冶研究总院、通标标准技术服务（天津）有限公司、云南出入境检验检疫局、北京有色金属研究总院、云南永昌硅业股份有限公司、云南祥云飞龙再生科技股份有限公司、广州有色金属研究院
批准发布部门：中国有色金属工业协会
GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定 原子荧光光谱法(图)
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