GB/T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
标准名称：光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
发布日期：2015-12-10
实施日期：2016-07-01
标准编号：GB/T 26332.4-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
标准编号：GB/T 26332.4-2015
规范名称：光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法
GB/T26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。 本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T12085—2010标准中没有描述。这些方法通常与 GB/T26332.3—2015附录 A 中的测试方法组成试验序列共同使用。 本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。
中国机械工业联合会
起草单位：沈阳仪表科学研究院有限公司、浙江大学、沈阳汇博光学公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、同济大学、大连化学物理研究所、杭州科汀光学技术有限公司
批准发布部门：中国机械工业联合会
GB/T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法(图)
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