GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
标准编号：GB/T 5594.8-2015
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
标准编号：GB/T 5594.8-2015
规范名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
工业和信息化部（电子）
起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院
批准发布部门：工业和信息化部（电子）
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法(图)
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