GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
标准名称：锗单晶电阻率直流四探针测量方法
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
标准编号：GB/T 26074-2010
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
标准编号：GB/T 26074-2010
规范名称：锗单晶电阻率直流四探针测量方法
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻串以及测量直径大于探针间距的1O倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·m～l×lO2Ω·cm。
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：南京中锗科技股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司
批准发布部门：国家标准化管理委员会
GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法(图)
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。