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GB/T 13539.4-2009 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

GB/T 13539.4-2009 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

简介

GB/T 13539.4-2009 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

标准编号:GB/T 13539.4-2009

规范名称:低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求

本部分的补充要求适用于安装在具有半导体装置的设备上的熔断体,该熔断体适用于标称电压不超过交流1000 V或直流1500 V的电路。如适用,还可用于更高的标称电压的电路。注1:此类熔断体通常称为“半导体熔断体”。注2:在多数情况下,组合设备的一部分可用作熔断器底座。由于设备的多样性,难以作出一般的规定;组合设备是否适合作熔断器底座,应由用户与制造厂协商。但是,如果采用独立的熔断器底座或熔断器支持件,他们应符合GB 13539.1-2008的相关要求。本部分的目的是确定半导体熔断体的特性,从而在相同尺寸的前提下,可以用具有相同特性的其他型式的熔断体替换半导体熔断体。因此,本部分中特别规定了:a) 熔断体的下列特性:1) 额定值;2) 正常工作时的温升;3) 耗散功率;4) 时间-电流特性;5) 分断能力;6) 截断电流特性和I2t特性;7) 电弧电压极限值。b) 验证熔断体特性的型式试验;c) 熔断体标志;d) 应提供的技术数据(见附录B)。

全国熔断器标准化技术委员会

起草单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司、西安西整熔断器厂等、上海电器陶瓷厂有限公司

批准发布部门:中国电器工业协会

GB/T 13539.4-2009

GB/T 13539.4-2009 低压熔断器 第4部分:半导体设备保护用熔断体的补充要求(图)

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