GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验
标准名称：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验
发布日期：2005-08-26
实施日期：2006-04-01
标准编号：GB/T 2423.27-2005
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验
标准编号：GB/T 2423.27-2005
规范名称：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验
本部分提供了由低温、低气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起，其次升温，然后与湿热条件结合在一起。本试验应用了试验A和试验M。虽然未完全按照试验D引入湿度，但用“Z/AMD”来表示本试验最恰当和最具提示性。本试验用于飞行器所使用的元器件和设备，特别是在非加热和非增压部位的元器件和设备。
全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会
起草单位：信息产业部电子第五研究所
批准发布部门：中国电器工业协会
GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD：低温/低气压/湿热连续综合试验(图)
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