GB/Z 43510-2023 集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

标准名称：集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南发布日期：2023-12-28 实施日期：2024-04-01 标准编号：GB/Z 43510-2023 标准状态：现行(*非即时更新以实际为准) 标准格式：PDF电子版

简介

标准编号：GB/Z 43510-2023

规范名称：集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南

该国家标准提供了硅通孔（TSV）三维封装的工艺开发验证用可靠性试验方法指南。

该国家标准适用于采用先通孔、中通孔以及后通孔三种工艺流程制造的TSV三维封装的工艺验证试验。

全国集成电路标准化技术委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究院、华进半导体封装先导技术研发中心有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国科学院半导体研究所、电子科技大学、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国科学院微电子研究所

起草人：李锟、彭博、周斌、高见头、肖克来提、吴道伟、李文昌

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