GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法
标准名称：低温下晶体透射率的试验方法
发布日期：1997-06-16
实施日期：1997-12-01
标准编号：GB/T 16864-1997
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法
标准编号：GB/T 16864-1997
规范名称：低温下晶体透射率的试验方法
本标准规定了低温下（300K～20K），波长在紫外-近红外的晶体透射率的试验方法。本标准适用于晶体透射率的测试。
中国科学院
起草单位：中国科学院物理研究所
批准发布部门：中国科学院
GB/T 16864-1997 低温下晶体透射率的试验方法(图)
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