DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
标准名称：超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
发布日期：2016-09-29
实施日期：2016-12-29
标准编号：DB44/T 1905-2016
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
DB44/T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
标准编号：DB44/T 1905-2016
规范名称：超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试
广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）
起草单位：中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司
批准发布部门：广东省质量技术监督局行业分类制造业
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