JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范
标准名称：光栅式测微仪校准规范
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
标准编号：JJF 1682-2017
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范
标准编号：JJF 1682-2017
规范名称：光栅式测微仪校准规范
本规范适用于0.1μm级行程为0~10mm、0.2μm级行程为0~25mm、0.5μm级行程为0~50mm、1μm级～10μm级行程为0~100mm的光栅式测微仪校准。
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院、安徽省计量科学研究院
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