SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
标准编号：SJ/T 11766-2020
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准编号：SJ/T 11766-2020
规范名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
适用范围：
适用于光电耦合器件1 Hz～300 kHz 频率范围内噪声参数的测试
基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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