SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语
标准名称：硅通孔几何测量术语
发布日期：2018-02-09
实施日期：2018-04-01
标准编号：SJ/T 11707-2018
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
SJ/T 11707-2018 硅通孔几何测量术语
标准编号：SJ/T 11707-2018
规范名称：硅通孔几何测量术语
适用范围：
本标准规定了硅通孔尺寸的几何测量术语和定义。
本标准适用于硅通孔尺寸的几何测量，其中硅通孔可完全贯穿硅晶圆，也可部分贯穿硅晶圆；硅通孔内可含有金属导体及其他介质，也可不包含金属导体及其他介质。
玻璃通孔尺寸的几何测量也可以参考本标准。
全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会
起草单位：中国电子科技集团公司第五十五研究所、天水华天科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所
批准发布部门：工业和信息化部行业分类信息传输、软件和信息技术服务业
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