YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
标准编号：YS/T 1160-2016
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
标准编号：YS/T 1160-2016
规范名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
适用范围：
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为1%。
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
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