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JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

简介

JB/T 8268-2015 静电复印光导体表面缺陷测量方法

标准编号:JB/T 8268-2015

规范名称:静电复印光导体表面缺陷测量方法

适用范围:

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。

批准发布部门:机械行业行业分类制造业

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