JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统
标准名称：光栅角位移测量系统
发布日期：2012-05-24
实施日期：2012-11-01
标准编号：JB/T 10034-2012
标准状态：现行(*非即时更新以实际为准)
标准格式：PDF电子版
简介
JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统
标准编号：JB/T 10034-2012
规范名称：光栅角位移测量系统
适用范围：
本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统。
全国量具量仪标准化技术委员会
起草单位：四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所等
批准发布部门：工业和信息化部行业分类无
*特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请联系我们处理。